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      日本SHINKO新光分析電子天平
      

      
日本SHINKO新光分析電子天平

      日本SHINKO新光分析電子天平XFR-135
追求高測量精度和易用性。
半微量電子天平（天平），最小可讀性為0.00001g（0.01mg），非常適合研究、分析、質(zhì)量檢驗(yàn)、測試和測量。
      

      更新時(shí)間：2024-12-30型號：XFR-135瀏覽量：335
      

      


      
            
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